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： 晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-04-061096-3:CNY149.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例/.马秀良著 |
| 出版发行项： | 北京:,高等教育出版社:,2024 |
| 载体形态项： | 588页, [49] 页图版:;+图 (部分彩图), 肖像:;+25cm |
| 丛编项： | 材料科学与工程著作系列 |
| 提要文摘： | 本书涵盖作者自20世纪80年代末师从郭可信先生起至近年带领研究团队在有关电子衍射方面所积累的主要实验案例, 主体 (第2-6章) 按晶体的对称性从低到高依次展开, 包括单斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系, 涉及周期性晶体14种布拉维点阵中的13种点阵类别以及部分准晶体, 共40余种物相。 |
| 并列题名： | Crystal structures and defects investigated by electron microscopy eng |
| 题名主题： | 晶体结构 电子显微镜分析 案例 |
| 中图分类： | O766 |
| 个人名称等同： | 马秀良, 著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20240122 |