书目详细信息
： 互换性与测量技术基础
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5682-5243-0:CNY55.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 互换性与测量技术基础/.主编高丽, 于涛, 杨俊茹 |
| 出版发行项： | 北京:,北京理工大学出版社:,2018.01 |
| 载体形态项： | 208页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书包括绪论, 测量技术基础, 孔、轴公差与配合及其尺寸检测, 几何公差及检测, 表面粗糙度及检测, 滚动轴承与孔轴结合的互换性, 渐开线圆柱齿轮公差与检测, 常用连接件公差与检测, 圆锥公差以及尺寸链等共十章。 |
| 题名主题： | 零部件 互换性 |
| 题名主题： | 零部件 测量技术 |
| 中图分类： | TG801 |
| 个人名称等同： | 高丽 主编 |
| 个人名称等同： | 于涛 主编 |
| 个人名称等同： | 杨俊茹 主编 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20180306 |