书目详细信息
： 电子元器件失效分析技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-27230-1:CNY98.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 电子元器件失效分析技术/.恩云飞, 来萍, 李少平编著/.编写组人员师谦 ... [等] |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2015.10 |
| 载体形态项： | XIX, 453页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 可靠性技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容, 使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念, 技术和设备、方法和流程, 指导开展相关的失效分析工作。 |
| 题名主题： | 电子元件 失效分析 |
| 题名主题： | 电子器件 失效分析 |
| 中图分类： | TN606 |
| 个人名称等同： | 恩云飞 编著 |
| 个人名称等同： | 来萍 编著 |
| 个人名称等同： | 李少平 编著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20151224 |