书目详细信息
： 集成电路芯片测试
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-308-12976-3:CNY29.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 330000 |
| 题名责任者项： | 集成电路芯片测试/.主编王芳, 徐振 |
| 出版发行项： | 杭州:,浙江大学出版社:,2014 |
| 载体形态项： | 182页:;+图:;+26cm |
| 一般附注： | “十一五”浙江省重点教材建设项目 |
| 提要文摘： | 集成电路测试业目前正成为集成电路产业中一个不可或缺的独立行业。本书主要从职业道德、C语言、自动分选机、测试机系统及应用以及常用的仪器元件、常见产品测试实例等几个方面着手, 比较系统地阐述了成品测试的重要组成步骤, 是微电子专业学生进行集成电路测试岗位培训的必修知识。 |
| 题名主题： | 集成电路 芯片 测试 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 王芳 主编 |
| 个人名称等同： | 徐振 主编 |
| 记录来源： | CN 三新书业 20140703 |