书目详细信息
： 瞬时电离辐射效应
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-074044-1:CNY180.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 瞬时电离辐射效应/.陈伟 ... [等] 著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2023.05 |
| 载体形态项： | 208页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 辐射环境模拟与效应丛书 |
| 提要文摘： | 瞬时电离辐射效应是电子系统最常见的一种辐射效应。瞬时电离辐射与半导体材料相互作用, 感生光电流, 改变器件及电路的特性和功能, 影响电子系统的可靠性。本书主要介绍核辐射环境及效应、模拟集成电路和大规模数字集成电路的瞬时电离辐射效应、瞬时电离辐射下的脉冲宽度效应、器件级及电路级仿真方法、瞬时辐射感生闩锁和阻锁、瞬时电离辐射效应试验技术、空间排序法在电子器件抗瞬时电离辐射性能评估中的应用。 |
| 题名主题： | 电离辐射 辐射效应 |
| 中图分类： | O644.2 |
| 个人名称等同： | 陈伟 著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20230620 |