ISBN/价格: | 978-7-03-076215-3:CNY98.00 |
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作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 高等仪器分析/.王霆, 孙铁东编著 |
出版发行项: | 北京:,科学出版社:,2023 |
载体形态项: | 267页:;+图:;+24cm |
提要文摘: | 本书围绕分子结构解析和材料表界面研究, 分九章系统介绍与之相关的各种先进仪器分析方法, 包括质谱分析法、一维核磁共振波谱分析法、二维核磁共振波谱分析法、红外和拉曼波谱分析法、紫外和分子荧光波谱分析法、X射线衍射分析法、X射线光电子能谱分析法、表面显微分析法。对于每种方法的发展史、基本原理、常用概念、主要测定技术、测试影响因素以及方法的应用实例都给出了深入的介绍。 |
题名主题: | 仪器分析 |
中图分类: | O657 |
个人名称等同: | 王霆 编著 |
个人名称等同: | 孙铁东 编著 |
记录来源: | CN 湖北三新 20230923 |