书目详细信息
： 纳米级系统芯片单粒子效应研究
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-067328-2:CNY98.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 纳米级系统芯片单粒子效应研究/.贺朝会 ... [等] 著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2021 |
| 载体形态项： | 191页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书主要介绍28nm系统芯片(SoC)的单粒子效应，内容包括SoC单粒子效应研究现状与测试系统的研制，SoC的a粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应软件加固方法研究；提出Xilinx Zynq-7000 SoC单粒子效应错误类型和单粒子效应规律；计算不同模块的单粒子效应截面和软错误率；揭示SoC的单粒子效应敏感模块和敏感区域分布特征；定量分析SoC系统、子系统和不同模块的故障频率、不可用度和平均故障间隔时间；提出几种SoC单粒子效应加固方法，并进行实验验证。 |
| 题名主题： | 集成芯片 单粒子态 研究 |
| 中图分类： | TN430.3 |
| 个人名称等同： | 贺朝会 著 |
| 个人名称等同： | 杜雪成 著 |
| 个人名称等同： | 杨卫涛 著 |
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20210610 |